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首页>SJ/Z 2321-1983  电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 Method of analysis by emission spectrum of impurities in Zirconium oxide for use in electronic ceramics

标准类型: SJ/Z
标准号:SJ/Z 2321-1983
标准/规范中文名:电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
标准/规范英文名:Method of analysis by emission spectrum of impurities in Zirconium oxide for use in electronic ceramics
标准状态:已作废
被替代标准:电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 Method of emission spectrochemical analysis of impurities in ZrO2 for use in electron ceramics [ 标准号: SJ/T 10553-1994 ]
原文语种:中文
译文语种:英文
原文页数:3页
中文字数:2253字
标准分类: 电子行业标准(SJ)
中标分类1: 电子元器件与信息技术
中标分类2: 电子设备专用材料 零件 结构件
中标分类3: L90电子技术专用材料
原文价格:8.0元
实施日期:2000-07-01
翻译进度:待翻译
标准信息摘要
 
标准号&标准中文名&标准英文名:SJ/Z 2321-1983  电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 Method of analysis by emission spectrum of impurities in Zirconium oxide for use in electronic ceramics
对标准:SJ/Z 2321-1983  电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 Method of analysis by emission spectrum of impurities in Zirconium oxide for use in electronic ceramics 
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